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KR100758110B1 – 반도체 테스트용 지그
– Google Patents

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  – Google Patents 이 발명은 반도체 테스트용 지그에 관한 것으로, 반도체 다이(semiconductor die)의 쉬어(shear) 및/또는 와이어(wire)의 풀(pull) 테스트시 샘플의 반복 측정이 가능 … …
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  – Google Patents 이 발명은 반도체 테스트용 지그에 관한 것으로, 반도체 다이(semiconductor die)의 쉬어(shear) 및/또는 와이어(wire)의 풀(pull) 테스트시 샘플의 반복 측정이 가능 …
  이 발명은 반도체 테스트용 지그에 관한 것으로, 반도체 다이(semiconductor die)의 쉬어(shear) 및/또는 와이어(wire)의 풀(pull) 테스트시 샘플의 반복 측정이 가능하고 작업자의 재현성까지 분석할 수 있도록, 대략 판상의 베이스 플레이트와; 상기 베이스 플레이트의 일측에 직각 방향으로 축이 설치되고, 상기 축에는 중앙에 자성체가 구비된 채 고정된 고정체와; 상기 축에 회전 가능하게 설치된 동시에, 상기 고정체의 자성체 전방에 위치되어 있으며, 상면에는 다수의 반도체 다이 샘플이 고정됨으로써, 상기 반도체 다이 샘플을 일측으로 밀면 상기 자성체의 자력을 이기고 상기 축을 중심으로 회전하는 회전체를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 함.

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KR100758110B1 – 반도체 테스트용 지그 – Google Patents

G — PHYSICS

G01 — MEASURING; TESTING

G01R — MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES

G01R31/00 — Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

G01R31/12 — Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing

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